Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw = X-ray microanalysis of thin films

Tytuł:: Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw = X-ray microanalysis of thin films
Proceedings of ITME 1983 z. 8
Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw
Prace ITME 1983 z. 8
Autorzy:: Sikorski Krzysztof
Współwytwórcy:: Szummer Krzysztof
Data publikacji:: 1983
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:: Materiały elektroniczne
x-ray microanalysis
Electronic materials
Electronic - journal - material
thin film
warstwa cienka
mikroanaliza rentgenowska
Elektronika - czasopismo - materiały
Źródło:: http://katalog.pan.pl/webpac-bin/218bitmeEN/wgbroker.exe?new+-access+top+search+open+NR+kv_6093
http://katalog.pan.pl/webpac-bin/218bitmePL/wgbroker.exe?new+-access+top+search+open+NR+kv_6093
ITME, sygn. dostępny
Język:: polski
Prawa:: Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Rights Reserved - Free Access
Linki:: https://rcin.org.pl/dlibra/publication/edition/30149/content Link otwiera się w nowym oknie
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
: Książka

Przejdź do źródła

56 s. : il. 24 cm.

Bibliogr. s. 52-55

Informacja