Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Desorption/ionization mass spectrometry on porous silicon dioxide

Szczegóły

Tytuł:: Desorption/ionization mass spectrometry on porous silicon dioxide
Autorzy:: Górecka-Drzazga, Anna
Bargiel, Sylwester
Walczak, Rafał
Kraj, Agnieszka
Silberring, Jerzy
Dyląg, Tomasz
Dziuban, Jan A.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: porous silicon
DIOS chip
MALDI TOF
porous silicon dioxide
DIOSD chip
mass spectrometry
Język:: angielski
ISBN, ISSN:: 09254005
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
: Artykuł

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Desorption/ionization mass spectrometry on porous silicon dioxide