Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Badanie cienkich warstw grafitu otrzymanych metodą eksfoliacji

Tytuł:
Badanie cienkich warstw grafitu otrzymanych metodą eksfoliacji
Study of thin graphite layers obtained by exfoliation method
Autorzy:
Bodek, Łukasz
Słowa kluczowe:
grafit, grafen, AFM, eksfoliacja, AFM, mikroskopia sił atomowych
graphite, graphene, AFM, atomic force microscopy, AFM, exfoliation method
Język:
polski
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Inne
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
In this study the attempt was made to obtain the graphite layers of nanometer thickness using a method of mechanical exfoliation. In the experiment, thin graphite layers were prepared using an adhesive tape and PDMS stamps. Atomic force microscopy (AFM) was chosen as the research method. At the first stage of study thin layers were observed under the optical microscope and selected areas were investigated with AFM. As a result of conducted study a graphene layer was identified.

W niniejszej pracy dokonano próby uzyskania warstw grafitu o grubości rzędu nanometrów używając metody eksfoliacji mechanicznej. W doświadczeniu cienkie warstwy otrzymywano z wykorzystaniem taśmy klejącej oraz pieczątek z PDMS. Jako metodę badawczą obrano mikroskopię sił atomowych (AFM). W pierwszym etapie cienkie warstwy rozpoznawano pod mikroskopem optycznym, a następnie zobrazowano wybrane obszary za pomocą AFM. W wyniku badań zidentyfikowano grafen.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies