Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Charge state evolution in electron beam ion trap

Tytuł:
Charge state evolution in electron beam ion trap
Autorzy:
Malarz, Adam
Mucha, Adam
Warczak, Andrzej
Biela-Nowaczyk, Weronika
Data publikacji:
2020
Język:
angielski
ISBN, ISSN:
18992358
Prawa:
Udzielam licencji. Uznanie autorstwa 4.0 Międzynarodowa
http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/legalcode.pl
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Inne
Recently, at the M. Smoluchowski Institute of Physics of the Jagiellonian University a commercial electron beam ion trap (EBIT) was installed for teaching and scientific purposes. The first experiments were focused on observation of radiative recombination and dielectronic recombination. An investigation of higher order resonant recombination processes was also initiated. These recombination processes depend strongly on the charge state of the ions involved in these processes. The EBIT plasma contains always a mixture of different charge states. Therefore, the charge-state distribution of the ions is crucial for the observed atomic processes. A new diagnostics tool for this distribution and a possibility of its manipulation form the main goal of the present paper which may help to better understand the processes investigated with an EBIT.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies