Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Od odręcznego szkicu i fotografii szczelinowej do skanowania przestrzennego : piękno zmian obrazu miejsca zdarzenia

Szczegóły

Tytuł:: Od odręcznego szkicu i fotografii szczelinowej do skanowania przestrzennego : piękno zmian obrazu miejsca zdarzenia
From freehand sketches and slit-scan photography to 3D scanning : the beauty of changes in the image of place inspection
Autorzy:: Krawczyk, Ryszard
Krawczyk, Wojciech
Data publikacji:: 2023
Wydawca:: Wydawnictwo TNOiK "Dom Organizatora"
Język:: polski
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
: Artykuł

Przejdź do źródła

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Od odręcznego szkicu i fotografii szczelinowej do skanowania przestrzennego : piękno zmian obrazu miejsca zdarzenia