Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Atomic force microscopy in mechanical measurements of single nanowires

Szczegóły

Tytuł:: Atomic force microscopy in mechanical measurements of single nanowires
Autorzy:: Fidelus, Janusz D.
Gotszalk, Teodor P.
Mika, Krystyna
Sulka, Grzegorz
Gacka, Ewelina
Zaraska, Leszek
Pruchnik, Bartosz C.
Data publikacji:: 2024
Język:: angielski
ISBN, ISSN:: 03043991
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
: Artykuł

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Atomic force microscopy in mechanical measurements of single nanowires