New approach in forensic studies of trace evidences

Przedstawiono możliwości wykorzystania nowoczesnych technik analitycznych ToF-SIMS (time-of-flight secondary ion mass spectrometry) i LA-ICP-ToF-MS (inductively coupled plasma time-of-flight mass spectrometry with laser ablation) w rozwiązywaniu aktualnych problemów z zakresu chemii sądowej. Przedstawiono przykładowe wyniki badań otrzymanych za pomocą metody ToF-SIMS, dotyczących m.in. analizy zanieczyszczeń znajdujących się na odcisku palca, które naturalnie na nim nie występują, natomiast mogą mieć związek z miejscem zdarzenia. Do badanych zanieczyszczeń należały: amfetamina (AF), metylenodioksymetamfetamina (MDMA, ecstasy) oraz cząstki powystrzałowe (GSR). Za pomocą tej techniki dokonano również próby określenia kolejności powstawania podpisów względem siebie. Metodę LA-ICP-ToF-MS zastosowano do bada-nia czarnych tonerów w postaci tabletek oraz wydruków, materiałów pisarskich (past długopisowych), podłoży papierowych, cząstek GSR oraz ludzkich kości. Na podstawie otrzymanych wyników pokazano duże możliwości wykorzystania wymienionych technik w badaniach kryminalistycznych.