Wszystkie pola: extended defects - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "extended defects" wg kryterium: Wszystkie pola

Wyświetlanie 1-10 z 13

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: On DLTS Experiments with Extended Defects
Autorzy:: Szkiełko, Wiktor
Data publikacji:: 1991-02
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 71.55.-i; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Electron Emission from Extended Defects in DLTS Experiment
Autorzy:: Figielski, T.
Data publikacji:: 1991-01
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 71.55.-i; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Extended Defects in SiC: Selective Etching and Raman Study
Autorzy:: Weyher, Jan
Współwytwórcy:: Weyher, Jan
Wydawca:: RepOD
Tematy:: Chemistry
Engineering
Physics
Defect-selective etching
silicon carbide
Raman spectroscopy
micro-pipes
dislocations
biaxial stress
optical phonons; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Otwartych Danych

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Current channeling along extended defects during electroreduction of SrTiO_{3}
Autorzy:: Korte, Carsten
Menzel, Stephen
Wrana, Dominik
Krok, Franciszek
Szot, Krzysztof
Gensch, Thomas
Rodenbücher, Christian
Data publikacji:: 2019
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Distinguishing and identyfying point and extended defects in DLTS measurements
Autorzy:: Gelczuk, Łukasz
Współwytwórcy:: Jóźwiak, G.
Dąbrowska-Szata, Maria (1946- )
Data publikacji:: 2005
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Distinguishing and identification of point and extended defects in DLTS measurements
Autorzy:: Gelczuk, Ł.
Dąbrowska-Szata, M.
Jóźwiak, G.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: defect identyfication
deep levels
point defects
extended defects
DLTS; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Annihilation and generation of dislocations by irradiation by ions and electrons in strontium titanate single crystal
Autorzy:: Wojtyniak, Marcin
Krok, Franciszek
Szot, Krzysztof
Jany, Benedykt
Cempura, Grzegorz
Kruk, Adam
Rodenbücher, Christian
Data publikacji:: 2023
Słowa kluczowe:: strontium titanate
extended defects
dislocation concentration; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: On Correlations between Extended Defects Formation and Electron Concentration Changes Caused by Annealing of GaAs:Te
Autorzy:: Borysiuk, J.
Kozubowski, J. A.
Słupiński, T.
Data publikacji:: 1996-10
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 61.72.Nn
61.72.Vv
72.80.Ey; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: The electronic properties of extended defects in $SrTiO_{3}$ : a case study of a real bicrystal boundary
Autorzy:: Krok, Franciszek
Szot, Krzysztof
Korte, Carsten
Wrana, Dominik
Gensch, Thomas
Rodenbücher, Christian
Data publikacji:: 2020
Słowa kluczowe:: strontium titanate
bicrystal
extended defects
photoluminescence; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Mapping the conducting channels formed along extended defects in $SrTiO_{3}$ by means of scanning near-field optical microscopy
Autorzy:: Bihlmayer, Gustav
Bittkau, Karsten
Szot, Kristof
Wrana, Dominik
Korte, Carsten
Gensch, Thomas
Rodenbücher, Christian
Krok, Franciszek
Data publikacji:: 2020
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-10 z 13

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies