Temat: cluster projectiles

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Effect of substrate thickness on ejection of phenylalanine molecules adsorbed on free-standing graphene bombarded by 10 keV C_{60}
Autorzy:: Gołuński, Mikołaj
Verkhoturov, S. V.
Verkhoturov, D. S.
Schweikert, E. A.
Postawa, Zbigniew
Data publikacji:: 2017
Słowa kluczowe:: computer simulations
sputtering
organic overlayers
cluster projectiles
graphene; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Modelowanie profilowania głębokościowego kryształów wiązką pocisków C60 i Au3
Autorzy:: Paruch, Robert
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Uniwersytet Jagielloński w Krakowie
Słowa kluczowe:: profilowanie głębokościowe
SIMS
depth profiling
dynamika molekularna
cluster projectiles
molecular dynamics
pociski klastrowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Jagiellońska Biblioteka Cyfrowa

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Molecular dynamics computer simulations of $5 keV C_{60}$ bombardment of benzene crystal
Autorzy:: Garrison, Barbara J.
Rzeźnik, Łukasz
Postawa, Zbigniew
Czerwiński, Bartłomiej
Paruch, Robert
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: organic material
SIMS/SNMS
molecular dynamics computer simulations
depth profiling
cluster projectiles
sputtering; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Modelowanie profilowania głębokościowego kryształów wiązką pocisków $C_{60}$ i $Au_{3}$
Computer modelling of crystal sample depth profiling with $C_{60}$ and $Au_{3}$ projectile beams
Autorzy:: Paruch, Robert
Współwytwórcy:: Postawa, Zbigniew
Data publikacji:: 2012-09-25
Słowa kluczowe:: dynamika molekularna
SIMS
profilowanie głębokościowe
molecular dynamics
pociski klastrowe
cluster projectiles
depth profiling; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Molecular dynamics computer simulations of organic overlayers erosion caused by an impact of large and slow clusters composed of noble gas atoms
Modelowanie komputerowe mechanizmu erozji warstw organicznych wywołanej strumieniem klasterów o niewielkich prędkościach, zbudowanych z atomów gazów szlachetnych
Autorzy:: Rzeźnik, Łukasz
Współwytwórcy:: Postawa, Zbigniew
Data publikacji:: 2010-09-10
Słowa kluczowe:: organic overlayers
rozpylanie
sputtering
modelowanie komputerowe
SIMS/SNMS
pociski klasterowe
cluster projectiles
molecular dynamics
warstwy organiczne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Książka

Szczegóły

Informacja