Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "random tests" wg kryterium: Temat


Tytuł:
Zmodyfikowany model prognozowania niezawodności urządzeń elektronicznych
A modified model of electronic device reliability prediction
Autorzy:
Zeng, S.
Sun, B.
Tong, Ch.
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
prognozowanie niezawodności
modyfikacja modelu
fizyka uszkodzeń
urządzenie elektroniczne
test K-S
testy cenzurowania losowego
reliability prediction
model modification
physics of failure
electronic device
K-S test
random censored tests
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Implementacja pakietu testów statystycznych do badania generatorów pseudolosowych w układzie programowalnym
Statistical tests of pseudo-random number generators in a programmable device
Autorzy:
Dąbal, P.
Pełka, R.
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
analiza statystyczna
generator losowy
FPGA
statistical tests
random number generator
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies