- Tytuł:
-
Metody ujawniania, klasyfikacja i ocena struktury defektów typu SWIRLS w bezdyslokacyjnych monokryształach krzemu, otrzymywanych metodą beztyglowego topienia strefowego = The methods of revealing, clasification and "swirls" defects in the dislocation free float-zone silicon crystals
Materiały Elektroniczne 1976 nr 3(15)
Metody ujawniania, klasyfikacja i ocena struktury defektów typu SWIRLS w bezdyslokacyjnych monokryształach krzemu, otrzymywanych metodą beztyglowego topienia strefowego - Autorzy:
- Jeske Witlod
- Współwytwórcy:
-
Weyher Jan
Sadowski Janusz - Data publikacji:
- 1976
- Wydawca:
- Wydaw. Przemysłu Maszynowego WEMA
- Słowa kluczowe:
-
dislocation free crystal
SiF2
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
bezdyslokacyjny monokryształ
Electronic - journal - materials
SWIRLS defekt
Elektronika - czasopismo - materiały
SWIRLS defect - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka