- Tytuł:
- Zastosowanie interferomerii światłowodowej w ocenie właściwości metrologicznych czujników bliskiego pola mikroskopu sił atomowych
- Autorzy:
-
Mulak, P.
Gotszalk, T.
Kolanek, K.
Woszczyna, M.
Masalska, A.
Zawierucha, P.
Wielgoszewski, G.
Zielony, M.
Sankowska, A.
Szeloch, R.
Janus, P.
Grabiec, P. - Data publikacji:
- 2006
- Słowa kluczowe:
-
mikroskopia bliskich oddziaływań
interferometria światłowodowa
nanometrologia
nanomiemictwo
scanning probe microscopy
optical fiber interferometry
nanometrology - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł