- Tytuł:
- The influence of yield model parameters on the probability of defect occurrence
- Autorzy:
-
Rakowski, M.
Pleskacz, W. A. - Data publikacji:
- 2007
- Wydawca:
- Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
- Tematy:
-
yield model parameters
spot defect
probability of defect occurrence
critical area - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki