Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "device parameters" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Parametry akustycznej fali pseudopowierzchniowej uwarunkowane warstwową konstrukcją podzespołu na niobianie litu o orientacji 41oYX
Materiały Elektroniczne 2006 T.34 nr 3/4
Parametry akustycznej fali pseudopowierzchniowej uwarunkowane warstwową konstrukcją podzespo łu na niobianie litu o orientacji 41oYX = PSAW parameters conditioned by multilayer structure of acoustic device on 41oYX LiNbO3
Autorzy:
Hechner Judyta
Współwytwórcy:
Łysakowska Magdalena
Data publikacji:
2006
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
PSAW device
podzespół AFPP
multilayer structure
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
AFPP
Electronic - journal - materials
PSAW
Elektronika - czasopismo - materiały
konstrukcja warstwowa
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Influence of stencil design and parameters of printing process on lead-free paste transfer efficiency
Materiały Elektroniczne 2009 T.37 nr 1
Influence of stencil design and parameters of printing process on lead-free paste transfer efficiency = Wpływ projektowania szablonu i parametrów drukowania na efektywność transferu pasty w lutowaniu bezołowiowym
Autorzy:
Stęplewski Wojciech
Współwytwórcy:
Prociów Krystyna
Borecki Janusz
Warycha Joanna
Data publikacji:
2009
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
strencil
3D inspection
fine pitch device
szablon metalowy
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
podzespół ultraminiaturowy
solder paste
pasta lutownicza
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Urządzenie adaptujące wyniki pomiaru Halla do rejestratora X - Y
Prace ITME 1979 z. 2
Urządzenie adaptujące wyniki pomiaru Halla do rejestratora X - Y = Device enduring the presentation of results of Hall parameters measurements using an X-Y recorder
Autorzy:
Matusewicz Stefan
Data publikacji:
1979
Wydawca:
Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:
semiconductor
półprzewodnik
Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
Electronic materials
napięcie Halla
Electronic - journal - material
Hall Voltage
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies