Wszystkie pola: diffraction methods

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Modelling hydrogen-bonded crystal structures beyond resolution of diffraction methods
Autorzy:: Katrusiak, A.
Współwytwórcy:: Polska Akademia Nauk. Komitet Nauk Chemicznych.
Polskie Towarzystwo Chemiczne.
Data publikacji:: 1998
Wydawca:: PWN
Słowa kluczowe:: Chemia -- -- -- -- [KABA]
Czasopisma naukowe -- Polska -- 1990-. -- [KABA]
Czasopisma naukowe -- Polska -- 1970-2000. -- [KABA]; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Application of powder diffraction methods to the analysis of the atomic structure of nanocrystals: theory and experiment
Lecture Notes 4
AMAS Course - MAM2001, Warsaw, October 8-12, 2001
Autorzy:: Pałosz B.
Pałosz, B.
Współwytwórcy:: Mróz, Zenon (1930– ). Ed.
Data publikacji:: 2002
Wydawca:: Centre of Excellence for Advanced Materials and Structures
IPPT PAN
Słowa kluczowe:: Odkształcenia mechaniczne - konferencje [KABA]
Kompozyty ceramiczne - konferencje [KABA]
Kompozyty metaliczne - konferencje [KABA]
Wytrzymałość materiałów
Mechanika - konferencje [KABA]
Materiały - badania - konferencje [KABA]; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Odwzorowywanie dyslokacji w krzemowych warstwach epitaksjalnych metodami odbiciowymi rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
Prace ITME 1984 z. 11
Odwzorowywanie dyslokacji w krzemowych warstwach epitaksjalnych metodami odbiciowymi rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej = The images of dislocations in silocon epitaxial layers obtained with help of X-ray diffraction topographic methods
Proceedings of ITME 1984 z. 11
Autorzy:: Wierzchowski Wojciech
Data publikacji:: 1984
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
rentgenowska topografia dyfrakcyjna
Si epitaxial layer
Electronic materials
dyslokacja
dislocation
krzemowa kwarstwa epitaksjalna
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1983 nr 4(44)
O defektach sieci przestrzennej kryształów badanych metodami rentgenowskimi
O defektach sieci przestrzennej kryształów badanych metodami rentgenowskimi = Lattice defects studied by x-ray methods
Autorzy:: Badzian Andrzej
Data publikacji:: 1984
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: dyfrakcja promieni rentgenowskich
X-ray diffraction
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
roztwór stały
solid solution
lattice defect
defekt sieci
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Informacja