Wszystkie pola: metoda layer-by-layer

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Badanie cienkich warstw magnetycznych granatów metodą FMR
Materiały Elektroniczne 1982 nr 1(37)
Badanie cienkich warstw magnetycznych granatów metodą FMR = Investigation of thin magnetic films by FMR method
Autorzy:: Jabłoński Ryszard
Współwytwórcy:: Sarnecki Jerzy
Data publikacji:: 1982
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: cienka warstwa
magnetic garnet
granat magnetyczny
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
thin layer technology
Electronic - journal - materials
FMR
Elektronika - czasopismo - materiały
FMM; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Proceedings of ITME 1988 z. 27
Wytwarzanie cienkich warstw fosforku galu metodą epitaksji z fazy gazowej = The production of thin GaP lauers by vapour phase epitaxy
Wytwarzanie cienkich warstw fosforku galu metodą epitaksji z fazy gazowej
Prace ITME 1988 z. 27
Autorzy:: Strupiński Włodzimierz
Data publikacji:: 1988
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:: Elektronika - czasopismo - materiały
epitaxial layer
VPE
Materiały elektroniczne
Electronic materials
GaP
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: A suggested method for calculating herb layer net production directly or by estimating errors of indirect methods
Sposób obliczania produkcji runa
Metodyka
Propozycja sposobu obliczania produkcji netto runa metodą bezpośrednią oraz szacowania błędów metod pośrednich
Autorzy:: Aulak, Władysław
Współwytwórcy:: Polska Akademia Nauk. Komitet Ekologiczny
Data publikacji:: 1974
Wydawca:: Państwowe Wydawnictwo Naukowe
Słowa kluczowe:: biological productivity
produktywność biologiczna
groundcover
runo leśne
productivity, biological
ground cover plants; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne1983 nr 4(44)
Materiały Elektroniczne 1983 nr 4(44)
Pomiar warstw epitaksjalnych metoda C-V przy użyciu sondy rtęciowej = Measurements of the epitaxial layers parameters by means of C-V method with Hg probe
Pomiar warstw epitaksjalnych metoda C-V przy użyciu sondy rtęciowej
Autorzy:: Brzozowski Andrzej
Współwytwórcy:: Szymkiewicz Andrzej
Data publikacji:: 1984
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: warstwa epitaksjalna
złącze prostujące metal-półprzewodnik
metal-semiconductor rectifier contact
epitaxial layer
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
metoda C-V
Electronic - journal - materials
C-V method
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Badanie rozkładu grubości emisji światłoczułych naniesionych na płyty metodą kontrolowanego wyciągania = Investigations of the thickness distribution of a light-sensitive emulsion layer, deposited on the plate by dip-coating technique
Materiały Elektroniczne 1982 nr 2(38)
Badanie rozkładu grubości emisji światłoczułych naniesionych na płyty metodą kontrolowanego wyciągania
Autorzy:: Blinkow Wiktor
Współwytwórcy:: Szadkowski Krzysztof
Cendrowski Sławomir
Mrówczyński Jacek
Data publikacji:: 1982
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: light sensitive emulsion
emisja światłoczuła
dip coating technique
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
metoda kontrolowanego wyciągania
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Badanie odkształceń sieci krystalicznej w implantowanej warstwie epitaksjalnej GaN osadzonej metodą MOCVD na podłożu szafirowym o orientacji [001]
Materiały Elektroniczne 2011 T.39 nr 4
Badanie odkształceń sieci krystalicznej w implantowanej warstwie epitaksjalnej GaN osadzonej metodą MOCVD na podłożu szafirowym o orientacji [001] = Lattice strain study in implanted GaN epitaxial layer deposited by means of MOCVD technique on [001] oriented sapphire substrate
Autorzy:: Wójcik Marek
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: diffraction
HR XRD
implantacja jonowa
Elektronika - czasopismo - materialy
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
Electronic - journal - materials
HRXRD
ion implantation
dyfrakcja; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Badanie dyslokacji w krzemie i w krzemowych warstwach epitaksjalnych za pomocą rentgenowskiej topografii odbiciowej metodą Berga-Barretta = The investigation of dislocations in Si and in epitaxial Si layers by Berg-Barret x-ray reflection topography
Materiały Elektroniczne 1975 nr 2(10)
Badanie dyslokacji w krzemie i w krzemowych warstwach epitaksjalnych za pomocą rentgenowskiej topografii odbiciowej metodą Berga-Barretta
Autorzy:: Wierzchowski Wojciech
Data publikacji:: 1975
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: warstwa epitaksjalna
X-ray reflection topography
epitaxial Si layer
Elektronika - czasopismo - materialy
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
dyslokacja
rentgenowska topografia odbiciowa
dislocation
Electronic - journal - materials; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Opracowanie metody ujawniania położenia złącza LH typu n+n oraz p+p w strukturach epitaksjalnych z SiC metoda chemicznego barwienia
Opracowanie metody ujawniania położenia złącza LH typu n+n oraz p+p w strukturach epitaksjalnych z SiC metoda chemicznego barwienia = Identification of position of the n+n and p+p LH junctions in epitaxial SiC layers by chemical decoration
Materiały Elektroniczne 2011 T.39 nr 2
Autorzy:: Przyborowska Krystyna
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: SiC
chemical decoration
thickness of epitaxial layer
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
chemiczne barwienie
grubość warstwy epitaksjalnej
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Lepidoptera in canopy layer of pine forests
Fragmenta Faunistica, t. 38, nr 13
Motyle (Lepidoptera) złowione metodą pułapek Moerickego w warstwie koron sosen w borach świeżych
Lepidoptera collected by method of Moericke traps in canopy layer of pine forests
Autorzy:: Buszko, Jarosław (1952– )
Polska Akademia Nauk. Muzeum i Instytut Zoologii
Winiarska, Grażyna (1951– )
Data publikacji:: 1995
Wydawca:: Muzeum i Instytut Zoologii Polskiej Akademii Nauk
Słowa kluczowe:: lepidopterans
pułapki Moerick'a
Insecta
Moericke's pitfall traps
Białowieża Forest
Poland
Motyle -- Polska -- Biała, Puszcza (las) -- wykazy faunistyczne [KABA]
łuskoskrzydłe
Lepidoptera
Motyle -- zoocenozy -- Polska -- Białowieska, Puszcza (las) [KABA]
White Wilderness
Motyle -- Polska -- Białowieska, Puszcza (las) -- wykazy faunistyczne [KABA]
insects
butterflies and moths
zoocenosis
Motyle -- zoocenozy -- Polska -- Biała, Puszcza (las) [KABA]
owady; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Informacja