Wszystkie pola: scanning electron microscopy;

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Scanning electron microscopy of reproductive epithelia in the female musk shrew, Suncus murinus
Autorzy:: Wikramanayake, E. D.
Dryden, G. L.
Data publikacji:: 1986
Słowa kluczowe:: narządy płciowe
female reproductive tract epithelia
skaningowy mikroskop elektronowy
struktura nabłonka
Suncus murinus
komórki powierzchniowe
Ryjówka domowa
scanning electron microscope; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Morphological comparison of Meloidogyne males by scanning electron microscopy
Journal of Nematology vol. 12 no. 1 (1980)
Autorzy:: Hirschmann, Hedwig
Eisenback, J. D.
Data publikacji:: 1980
Słowa kluczowe:: Nicienie -- pasożyty roślin
Nematologia
Meloidogyne
Nicienie -- systematyka
Nematoda; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Scanning Electron Microscopy vol. 2 (1982)
Morphological comparison of stylets of male root-knot nematodes (Meloidogyne spp.)
Autorzy:: Hirschmann, Hedwig
Eisenback, J. D.
Data publikacji:: 1982
Słowa kluczowe:: Nicienie -- pasożyty roślin
Nematologia
Meloidogyne
Nicienie -- systematyka
Nematoda; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Bulletin de lInstitut Royal des Sciences Naturelles de Belgique. Biologie vol. 64 (1994)
Scanning electron microscopy observations on Telotylenchinae Siddiqi, 1960 (Nemata: Belonolaimidae). 3. The genus Tylenchorhynchus Cobb, 1913
Autorzy:: Mounport, Danamou
Martiny, Bernard
Baujard, Pierre
Data publikacji:: 1994
Słowa kluczowe:: Nicienie -- pasożyty roślin
Belonolaimidae
Nicienie -- systematyka
Nematoda
Nematologia
Telotylenchinae
Tylenchorhynchus; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Scanning electron microscope at low voltage operation - a unique characterization tool for graphene layers
Scanning electron microscope at low voltage operation - a unique characterization tool for graphene layers Iwona Jóźwik.
Skaningowy mikroskop elektronowy pracujący w zakresie niskich wartości napięcia przyspieszającego jako unikatowe narzędzie do charakteryzacji warstw grafenu
Autorzy:: Jóźwik Iwona
Współwytwórcy:: Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych. Wyd.
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: Charakteryzacja grafenu
Graphene
Low-kV scanning electron microscopy
Grafen
Niskoenergetyczna skaningowa mikroskopia elektronowa
Graphene characterization; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Badania heteroepitaksjalnych warstw GaAs1-xPx/GaAs za pomocą skaningowej i prześwietleniowej mikroskopii elektronowej
Materiały Elektroniczne 1982 nr 4(40)
Badania heteroepitaksjalnych warstw GaAs1-xPx/GaAs za pomocą skaningowej i prześwietleniowej mikroskopii elektronowej = Investigation of heteroepitaxial layers of GaAs1-x Px/GaAs by means of scanning and transmission electron microscopy
Autorzy:: Drabik Wojciech
Współwytwórcy:: Pawłowska Marta
Toruń Jędrzej
Data publikacji:: 1983
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: TEM
SEM
warstwa heteroepitaksjalna
mikroskopia elektronowa
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
Electronic - journal - materials
GaAs
Elektronika - czasopismo - materiały
heteroepitaxy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Informacja