Wszystkie pola: silicon typu

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Krzemowe warstwy epitaksjalne domieszkowane As dla mikrofalowych tranzystorów typu npn = Epitaxial silicon layers As doped for micowave npn transistors
Materiały Elektroniczne 1986 nr 4(56)
Krzemowe warstwy epitaksjalne domieszkowane As dla mikrofalowych tranzystorów typu npn
Autorzy:: Nossarzewska-Orłowska Elżbieta
Współwytwórcy:: Lipiński Dariusz
Sarnecki Jerzy
Skwarcz Jerzy
Data publikacji:: 1987
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: warstwa epitaksjalna
Elektronika - czasopismo - materiały
domieszkowanie
Materiały elektroniczne
Electronic materials
epitaxial layers
As doped
As
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Metody ujawniania, klasyfikacja i ocena struktury defektów typu SWIRLS w bezdyslokacyjnych monokryształach krzemu, otrzymywanych metodą beztyglowego topienia strefowego = The methods of revealing, clasification and "swirls" defects in the dislocation free float-zone silicon crystals
Materiały Elektroniczne 1976 nr 3(15)
Metody ujawniania, klasyfikacja i ocena struktury defektów typu SWIRLS w bezdyslokacyjnych monokryształach krzemu, otrzymywanych metodą beztyglowego topienia strefowego
Autorzy:: Jeske Witlod
Współwytwórcy:: Weyher Jan
Sadowski Janusz
Data publikacji:: 1976
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego WEMA
Słowa kluczowe:: dislocation free crystal
SiF2
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
bezdyslokacyjny monokryształ
Electronic - journal - materials
SWIRLS defekt
Elektronika - czasopismo - materiały
SWIRLS defect; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Informacja