Wszystkie pola: x method - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1980 nr 2(30)
Metoda badań rentgenowskich struktury pasmowej ciał stałych na przykładzie miedzi
Metoda badań rentgenowskich struktury pasmowej ciał stałych na przykładzie miedzi = X-ray examination method of solid state band structure, based on the example of copper
Autorzy:: Badzian Andrzej
Współwytwórcy:: Kłokocki Andrzej
Data publikacji:: 1981
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: promieniowanie rentgenowskie
Cu
struktura pasmowa
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
bad structure
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały
X-ray diffraction study; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Preparation of a BiTeI polar semiconductor with a strong asymmetric inversion / Andrzej Materna.
Otrzymywanie polarnego półprzewodnika BiTeI, wykazującego silną asymetrię inwersji
Autorzy:: Materna Andrzej
Materna, Andrzej
Współwytwórcy:: Materna Andrzej
Data publikacji:: 2017
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: topological insulator
BiTeX (X = I, Br, Cl) compounds
CVT method
izolator topologiczny
VB method
związki BiTeX (X= I, Br, Cl); Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1986 nr 4(56)
Podwyższenie wiarygodności rentgenograficznych badań materiałowych przez zastosowanie metody regulacji
Podwyższenie wiarygodności rentgenograficznych badań materiałowych przez zastosowanie metody regulacji = On greater reliability of X-ray materials testing by application of regularization method
Autorzy:: Frydrychowicz Jerzy
Współwytwórcy:: Świłło Ryszard
Kojdecki Marek
Data publikacji:: 1987
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: X-ray testing
Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
metoda regularyzacji
Electronic materials
regularization method
badania entgenograficzne
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Metody korekcyjne ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej pierwiastków lekkich = Correction methods in quantitative x-ray microanalysis of light elements
Prace ITME1983 z. 7
Metody korekcyjne ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej pierwiastków lekkich
Autorzy:: Kaczyński Łukasz
Data publikacji:: 1983
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:: metoda korekcyjna
correction method
quantitative X-ray microanalysis
light element
pierwiastek lekki
ilościowa mikroanaliza rentgenowska; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Ford E. D. 2000 - Scientific method for ecological research - Cambridge University Press, Cambridge, ss. 564. [ISBN 0-521-66005-X]
Recenzje
Autorzy:: Szwagrzyk, Jerzy
Współwytwórcy:: Polska Akademia Nauk. Centrum Badań Ekologicznych
Data publikacji:: 2003
Wydawca:: Centrum Badań Ekologicznych PAN
Słowa kluczowe:: methodology
reviews
ecological research
recenzje
badania ekologiczne
metodologia; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Badanie monokryształów tlenkowych za pomocą synchrotronowej i konwencjonalnej rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography Wojciech Wierzchowski, Agnieszka Malinowska, Krzysztof Wieteska, Edyta Wierzbicka, Krystyna Mazur, Maria Lefeld - Sosnowska, Marek Świrkowicz, Tadeusz Łukasiewicz.
Autorzy:: Wierzchowski Wojciech
Współwytwórcy:: Mazur Krystyna
Łukasiewicz Tadeusz
Lefeld - Sosnowska Maria
Wierzbicka Edyta
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Wieteska Krzysztof
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
defekty sieci krystalicznej
Czochralski method
crystal lattice defects
dyfrakcyjna topografia dyfrakcyjna
metoda Czochralskiego; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Applicationes Mathematicae T.18 (1983-1985)
Zastosowania Matematyki T.18 (1983-1985)
Algorithm 89 - A procedure realizing a fourth order one-step method for solving a system of ordinary differential equations of the form y''=f(x,y,y')
Autorzy:: Szyszkowicz, Mieczysław
Współwytwórcy:: Polska Akademia Nauk. Instytut Matematyczny.
Data publikacji:: 1983-1985
Wydawca:: Państwowe Wydawnictwo Naukowe
Słowa kluczowe:: Matematyka -- czasopisma. [KABA]
Matematyka -- zastosowania naukowe -- czasopisma. [KABA]; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Nowa metoda identyfikacji typu dyslokacji na podstawie topografii rentgenowskiej Langa = A new identification method of the dislocation type based on the Lang topography
Nowa metoda identyfikacji typu dyslokacji na podstawie topografii rentgenowskiej Langa
Materiały Elektroniczne 1978 nr 3(23)
Autorzy:: Majcher Krzysztof
Data publikacji:: 1979
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: topografia rentgenowska
x-ray topography
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
dyslokacja
dislocation
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Electronic Materials T 43 Nr 1 2015
X-ray diffraction topography of lattice defects in MgAl2O4 and ScAlMgO4 crystals grown under different technological conditions
Rentgenowska topografia dyfrakcyjna defektów sieci krystalicznej w monokryształach MgAl2O4 i ScAlMgO4 otrzymywanych w różnych warunkach technologicznych
Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1
Autorzy:: Wierzbicka Edyta
Współwytwórcy:: Wierzchowski Wojciech
Mazur Krystyna
Romaniec Magdalena
Kisielewski Jarosław
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Szyrski Włodzimierz
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
Czochralski method
MgAl2O4
crystal lattice defects
ScAlMgO4
topografia rentgenowska; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Phase transition in nanocrystalline Li-Mn-O systems - application of Rietveld method
Autorzy:: Lisovytskiy, Dmytro.
Współwytwórcy:: Pielaszek, Jerzy
Data publikacji:: 2006
Wydawca:: Instytut Chemii Fizycznej PAN
Institute of Physical Chemistry PAS
Słowa kluczowe:: Physics -- X-ray Crystallography
Prace doktorskie -- chemia nieorganiczna
Dissertations -- Materials
Przemiany fazowe
Chemia nieorganiczna -- dzieła monograficzne -- opracowania szczegółowe
Chemistry Inorganic -- Monographs
Chemistry, Physical -- Phase transitions
Prace doktorskie -- chemia fizyczna
Rentgenografia -- Krystalografia
Dissertations -- Chemistry, Physical
Prace doktorskie -- materaiałoznawstwo
Dissertations -- Chemistry, Inorganic; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "x method" wg kryterium: Wszystkie pola