- Tytuł:
-
Badania heteroepitaksjalnych warstw GaAs1-xPx/GaAs za pomocą skaningowej i prześwietleniowej mikroskopii elektronowej
Materiały Elektroniczne 1982 nr 4(40)
Badania heteroepitaksjalnych warstw GaAs1-xPx/GaAs za pomocą skaningowej i prześwietleniowej mikroskopii elektronowej = Investigation of heteroepitaxial layers of GaAs1-x Px/GaAs by means of scanning and transmission electron microscopy - Autorzy:
- Drabik Wojciech
- Współwytwórcy:
-
Pawłowska Marta
Toruń Jędrzej - Data publikacji:
- 1983
- Wydawca:
- Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
- Słowa kluczowe:
-
TEM
SEM
warstwa heteroepitaksjalna
mikroskopia elektronowa
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
Electronic - journal - materials
GaAs
Elektronika - czasopismo - materiały
heteroepitaxy - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych