Temat: X–ray diffraction

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Badanie monokryształów tlenkowych za pomocą synchrotronowej i konwencjonalnej rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography Wojciech Wierzchowski, Agnieszka Malinowska, Krzysztof Wieteska, Edyta Wierzbicka, Krystyna Mazur, Maria Lefeld - Sosnowska, Marek Świrkowicz, Tadeusz Łukasiewicz.
Autorzy:: Wierzchowski Wojciech
Współwytwórcy:: Mazur Krystyna
Łukasiewicz Tadeusz
Lefeld - Sosnowska Maria
Wierzbicka Edyta
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Wieteska Krzysztof
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
defekty sieci krystalicznej
Czochralski method
crystal lattice defects
dyfrakcyjna topografia dyfrakcyjna
metoda Czochralskiego; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Electronic Materials T 43 Nr 1 2015
X-ray diffraction topography of lattice defects in MgAl2O4 and ScAlMgO4 crystals grown under different technological conditions
Rentgenowska topografia dyfrakcyjna defektów sieci krystalicznej w monokryształach MgAl2O4 i ScAlMgO4 otrzymywanych w różnych warunkach technologicznych
Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1
Autorzy:: Wierzbicka Edyta
Współwytwórcy:: Wierzchowski Wojciech
Mazur Krystyna
Romaniec Magdalena
Kisielewski Jarosław
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Szyrski Włodzimierz
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
Czochralski method
MgAl2O4
crystal lattice defects
ScAlMgO4
topografia rentgenowska; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Rentgenodyfrakcyjna analiza odkształceń koherentnych w półprzewodnikowych strukturach warstwach AIIIBV. Praca doktorska
Prace doktorskie
Rentgenodyfrakcyjna analiza odkształceń koherentnych w półprzewodnikowych strukturach warstwach AIIIBV. praca doktorska = X-ray diffractiometric analysis of coherence deformation in AIIIBV semiconductor layered structures
Autorzy:: Sass Jerzy
Współwytwórcy:: Pajączkowska Anna. Promotor.
Data publikacji:: 1998
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: dyfrakcja rentgenowska
warstwa epitaksjalna
Elektronika - materiały
epitaxial layer
misfitdislocation
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
AIIIBV
x-ray diffraction
dyslokacja niedopadowania; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1992 T.20 nr 3
Numeryczne metody rozpłatania rentgenowskiego widma dyfrakcyjnego. Zastosowanie do badania supersieci półprzewodnikowych = The numerical x-ray peaks refinements applied to the semiconductor superlattice spectra
Numeryczne metody rozpłatania rentgenowskiego widma dyfrakcyjnego. Zastosowanie do badania supersieci półprzewodnikowych
Autorzy:: Gaca Jarosław
Współwytwórcy:: Sass Jerzy
Wójcik Marek
Data publikacji:: 1992
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: supersieć półprzewodnikowa
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
rentgenowskie widmo dyfrakcyjne
semiconductor spectra
Electronic - journal - materials
x-ray diffraction spectra
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1980 nr 2(30)
Metoda badań rentgenowskich struktury pasmowej ciał stałych na przykładzie miedzi
Metoda badań rentgenowskich struktury pasmowej ciał stałych na przykładzie miedzi = X-ray examination method of solid state band structure, based on the example of copper
Autorzy:: Badzian Andrzej
Współwytwórcy:: Kłokocki Andrzej
Data publikacji:: 1981
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: promieniowanie rentgenowskie
Cu
struktura pasmowa
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
bad structure
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały
X-ray diffraction study; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1983 nr 4(44)
O defektach sieci przestrzennej kryształów badanych metodami rentgenowskimi
O defektach sieci przestrzennej kryształów badanych metodami rentgenowskimi = Lattice defects studied by x-ray methods
Autorzy:: Badzian Andrzej
Data publikacji:: 1984
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: dyfrakcja promieni rentgenowskich
X-ray diffraction
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
roztwór stały
solid solution
lattice defect
defekt sieci
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 2000 T.28 nr 3
Rozwinięcie i zastosowanie darwinowskiej teorii dyfrakcji promieni rentgenowskich do określania struktury i składu chemicznego kryształów wielowarstwowych
Rozwinięcie i zastosowanie darwinowskiej teorii dyfrakcji promieni rentgenowskich do określania struktury i składu chemicznego kryształów wielowarstwowych = Development and application of Darwin x-ray diffraction theory for structure and chemical composition determination in multilayered crystals
Autorzy:: Wójcik Marek
Współwytwórcy:: Gaca Jartosław
Turos Andrzej
Strupiński Włodzimierz
Data publikacji:: 2000
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: Elektronika - czasopismo - materiały
multilayered crystal
Electronic - journal - materials
kryształ wielowarstwowy
skład chemiczny
chemical composition
dyfrakcja rentgenowska
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
x-ray diffraction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1988 nr 2(62)
Badania metodami rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej defektów strukturalnych monokryształów Y2Al5O12 silnie domieszkowanych neodymem = The investigation of structural defects in the heavily Nd - doped YAG crystals by means of \\x-ray diffraction topography
Badania metodami rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej defektów strukturalnych monokryształów Y2Al5O12 silnie domieszkowanych neodymem
Autorzy:: Mazur Krystyna
Współwytwórcy:: Wierzchowski Wojciech
Data publikacji:: 1988
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
Elektronika - czasopismo - materiały
structural defect
dyfrakcyjan topografia rentgenowska
defekt strukturalny
Materiały elektroniczne
Electronic materials
Nd:YAG
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Proceedings of ITME 1984 z. 12
Syntezy wysokociśnieniowe kryształów o strukturze typu diamentu i ich struiktura atomowa w świetle badań rentgenowskich
Syntezy wysokociśnieniowe kryształów o strukturze typu diamentu i ich struiktura atomowa w świetle badań rentgenowskich = High pressure synthesis of diamond type structure phase and their atomic structure
Prace ITME 1984 z. 12
Autorzy:: Badzian Andrzej
Data publikacji:: 1984
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:: badania rentgenowskie
Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
Electronic materials
synteza diamentu
synthesis of diamond
struktura atomowa
atomic structure
Electronic - journal - material
X-ray diffraction study; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Odwzorowywanie dyslokacji w krzemowych warstwach epitaksjalnych metodami odbiciowymi rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
Prace ITME 1984 z. 11
Odwzorowywanie dyslokacji w krzemowych warstwach epitaksjalnych metodami odbiciowymi rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej = The images of dislocations in silocon epitaxial layers obtained with help of X-ray diffraction topographic methods
Proceedings of ITME 1984 z. 11
Autorzy:: Wierzchowski Wojciech
Data publikacji:: 1984
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
rentgenowska topografia dyfrakcyjna
Si epitaxial layer
Electronic materials
dyslokacja
dislocation
krzemowa kwarstwa epitaksjalna
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "X–ray diffraction" wg kryterium: Temat