Temat: mikroskopia - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Mikroskopia i obrazowanie
Mikroskopia i obrazowanie.
Autorzy:: Kuźnicki, Leszek (1928–2023) : Redaktor
Kuźnicki, Leszek (1928–2023) : Editor
Współwytwórcy:: Sikora, Jerzy : Redaktor
Sikora, Jerzy : Editor
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Instytut Biologii Doświadczalnej im. M. Nenckiego PAN
Słowa kluczowe:: Microscopy
Mikroskopia; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Świat niewidzialny czyli Świat widziany przez mikroskop
Świat widziany przez mikroskop
Wydawnictwo Popularne
Autorzy:: Skrzyńska, Kazimiera.
Skrzyńska, Kazimiera
Współwytwórcy:: Gebethner i Wolff
Gebethner i Wolff.
Data publikacji:: 1900
Wydawca:: (druk Rubieszewskiego i Wrotnowskiego)
nakład Gebethnera i Wolffa
Słowa kluczowe:: Mikroskopia w medycynie -- wydawnictwa popularne [KABA]
Mikrobiologia -- wydawnictwa popularne [KABA]
microscopy, medical - popular works
plants - mikroskopia - popular works
Mikroskopia -- wydawnictwa popularne [KABA]
Rośliny -- mikroskopia -- wydawnictwa popularne. [KABA]
microbiology - popular works
microscopy - popular works
animals - mikroskopia - popular works
Zwierzęta -- mikroskopia -- wydawnictwa popularne. [KABA]; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 2009 T.37 nr 4
Prezentacja głównego zakresu możliwosci obrazowania i analiza za pomoca mikroskopu Auriga Crossbeam Workstation firmy Carl Zeiss znajdującego się w Instytucie Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
Autorzy:: Jóźwik, Iwona
Jóźwik Iwona
Współwytwórcy:: Piątkowska, Anna.
Piątkowska Anna
Data publikacji:: 2009
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: Materiały elektroniczne
Electronic - materials
mikroskopia skaningowa
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Scanning electron microscope at low voltage operation - a unique characterization tool for graphene layers
Scanning electron microscope at low voltage operation - a unique characterization tool for graphene layers Iwona Jóźwik.
Skaningowy mikroskop elektronowy pracujący w zakresie niskich wartości napięcia przyspieszającego jako unikatowe narzędzie do charakteryzacji warstw grafenu
Autorzy:: Jóźwik Iwona
Współwytwórcy:: Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych. Wyd.
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: Charakteryzacja grafenu
Graphene
Low-kV scanning electron microscopy
Grafen
Niskoenergetyczna skaningowa mikroskopia elektronowa
Graphene characterization; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Otrzymywanie powierzchni wzmacniających sygnały Ramana
Autorzy:: Adamkiewicz, Witold
Współwytwórcy:: Hołyst, Robert (1963– )
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Institute of Physical Chemistry PAS
Instytut Chemii Fizycznej PAN
Słowa kluczowe:: Mikroskopia optyczna i elektronowa
Chemia fizyczna - Nanomateriały
Physics -- Optics, Spectroscopy
Optyka, spektroskopia
Chemistry, physical -- Nanomaterials
Physics -- Plasma; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Badania heteroepitaksjalnych warstw GaAs1-xPx/GaAs za pomocą skaningowej i prześwietleniowej mikroskopii elektronowej
Materiały Elektroniczne 1982 nr 4(40)
Badania heteroepitaksjalnych warstw GaAs1-xPx/GaAs za pomocą skaningowej i prześwietleniowej mikroskopii elektronowej = Investigation of heteroepitaxial layers of GaAs1-x Px/GaAs by means of scanning and transmission electron microscopy
Autorzy:: Drabik Wojciech
Współwytwórcy:: Pawłowska Marta
Toruń Jędrzej
Data publikacji:: 1983
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: TEM
SEM
warstwa heteroepitaksjalna
mikroskopia elektronowa
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
Electronic - journal - materials
GaAs
Elektronika - czasopismo - materiały
heteroepitaxy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej w analitycznej mikroskopii elektronowej
Prace ITME 1992 z. 37
Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej w analitycznej mikroskopii elektronowej = Principles for quantitative X-ray micoanalysis in the analytical electron microscopy
Autorzy:: Paduch Józef
Współwytwórcy:: Wojtas Jerzy
Barszcz, Edward
Barszcz Edward
Data publikacji:: 1992
Wydawca:: Wydaw. Przem. "WEMA"
Słowa kluczowe:: Elektronika - czasopismo - materiały
mikroskopia elektronowa
Materiały elektroniczne
quantitative X-ray microanalysis
analytical electron microscopy
Electronic materials
microanalysis
Electronic - journal - material
ilościowa mikroanaliza rentgenowska; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Archaeologia Polona Vol. 54 (2016)
Archaeometric study of some functional tools from the Sąspów and Wierzbica ‘Zele’ flint mines sites
Autorzy:: Rauchfleisz, Marta
Kowalski, Łukasz
Małecka-Kukawka, Jolanta (1955– )
Szczepańska, Grażyna
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Institute of Archaeology and Ethnology Polish Academy of Sciences
Słowa kluczowe:: archeometria
traseologia
górnictwo krzemienia
analiza pozostałości
archaeometry
use-wear analysis
spektroskopia z dyspersją energii (EDS)
skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM)
residue analysis
SEM-EDS
flint mining; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Archaeologia Polona Vol. 54 (2016)
Erratic Flint from Poland: Preliminary results of petrographic and geochemical analyses
Autorzy:: Werra, Dagmara H.
Sobkowiak-Tabaka, Iwona
Siuda, Rafał
Hughes, Richard E.
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Institute of Archaeology and Ethnology Polish Academy of Sciences
Słowa kluczowe:: SEM
krzemień narzutowy
EPMA
geochemiczne analizy
geochemical analysis
EDXRF
mikroanaliza rentgenowska (EPMA)
skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM)
erratic flint
rentgenowska analiza fluorescencyjna z dyspersją energii (EDXRF); Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Fasciculi Archaeologiae Historicae. Fasc. 31 (2018)
Metal-Decorated Textiles in Non-Destructive Archaeometric Studies. Examples from Poland
Autorzy:: Miazga, Beata
Data publikacji:: 2018
Wydawca:: Institute of Archaeology and Ethnology of Polish Academy of Sciences
Polish Academy of Sciences. Łódź Branch
Słowa kluczowe:: stanowiska grobowe polskie
mikroskopia świetlna
metal threads
tkanina
Polish funerary sites
nici o metalowym oplocie
Polska
ED-XRF
archaeometry
Poland
microscope
archeometria
ED-XRF (energodyspersyjna spektroskopia fluorescencji rentgenowskiej)
textile; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "mikroskopia" wg kryterium: Temat