- Tytuł:
-
Determination of stress in thin bismuth layers on flexible polymer substrate with use of optical interferometry
Wyznaczanie naprężeń w cienkich warstwach bizmutu na giętkim podłożu polimerowym z użyciem interferometrii optycznej - Autorzy:
- Horeglad, Piotr
- Słowa kluczowe:
-
odkształcenie, deformacja, naprężenie, czujnik optyczny, siatka dyfrakcyjna, litografia, DLIP, litografia interferencyjna, LabVIEW
strain, stress, optical strain sensor, optical strain gauge, diffraction grating, lithography, DLIP, interference lithography, LabVIEW - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Inne