Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "grazing incidence X-ray diffraction" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-4 z 4
Inne
Tytuł:
Badanie cienkich warstw i zabytkowych powłok metali metodą mikrodyfrakcji i dyfrakcji stałokątowej
Researches of thin layers and antique metal coating using microdiffraction and grazing incidence diffraction
Autorzy:
Latosińska, Anna
Słowa kluczowe:
microdiffraction, grazing incidence diffraction, X−ray diffraction (XRD), X-ray fluorescence (XRF), scanning electron microscopy
mikrodyfrakcja, dyfrakcja stałokątowa, dyfrakcja promieni rentgenowskich, flluorescencja rentgenowska, skaningowa mikroskopia elektronowa
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Inne
Tytuł:
Study of the influence of soluble and sparingly soluble persistent perfluorinated pollutants on the physicochemical properties of model biomembranes
Badanie wpływu rozpuszczalnych i trudno rozpuszczalnych trwałych zanieczyszczeń perfluorowanych na właściwości fizykochemiczne modelowych biomembran
Autorzy:
Perczyk, Paulina
Słowa kluczowe:
persistent organic pollutants, perfluorinated pollutants, Langmuir monolayers, model membranes, grazing incidence X-ray diffraction, Brewster angle microscopy
trwałe zanieczyszczenia organiczne, zanieczyszczenia perfluorowane, monowarstwy Langmuira, modelowe biomembrany, dyfrakcja synchrotronowego promieniowania rentgenowskiego, mikroskopia kąta Brewstera
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Inne
Tytuł:
Cienkowarstwowe struktury tlenków metali przejściowych – wytwarzanie oraz ich charakterystyka
Transition metal oxides thin film structures - formation and characterisation
Autorzy:
Popek, Piotr
Słowa kluczowe:
reactive, RF, magnetron, sputtering, deposition, fabrication, titanium, (IV), oxide, dioxide, anatase, rutile, thin, film, annealing, atomic force microscopy, AFM, scanning electron microscopy, SEM, grazing incidence x-ray diffraction, GIXRD, XRD, low energy electron diffraction, LEED, local conductivity, LC-AFM, C-AFM, resistive switching, RS, memristor, memristance,
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Inne
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies