- Tytuł:
- Ion Etching Effects Occurring in Secondary Ion Mass Spectrometry Depth profiling of InGaAs/InP and InGaAs/AlAs/InP MBE Grown Heterostructures
- Autorzy:
-
Kozhukhov, A. V.
Konarski, P.
Herman, M. A. - Data publikacji:
- 1996-11
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Tematy:
-
68.35.Bs
68.55.Jk - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł