Wszystkie pola: x-ray diffraction analysis

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "x-ray diffraction analysis" wg kryterium: Wszystkie pola

Wyświetlanie 1-6 z 6

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: In Situ Energy Dispersive X-Ray Diffraction Analysis of the Temperature-Pressure Stability of Co-Fe-(Ta,W)-B Alloys
Autorzy:: Kanász, R.
Bednarčík, J.
Saksl, K.
Nicula, R.
Stir, M.
Lathe, C.
Data publikacji:: 2008-01
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 75.50.Kj; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: X-ray diffraction microstructural analysis of swelling by ethylene glycol in two reference clay minerals
Autorzy:: García Tomás, F.
Kojdecki, M.
Pardo, P.
Ibańez, R.
Álvarez Larena, A.
Bastida, J.
Data publikacji:: 2016-10
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 68.37.Vj
61.72.Dd; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: X-ray Diffraction and Elemental Analysis of Medical and Environmental Samples
Autorzy:: Bielecka, K.
Kurtek, W.
Banaś, D.
Kubala-Kukuś, A.
Braziewicz, J.
Majewska, U.
Pajek, M.
Wudarczyk-Moćko, J.
Stabrawa, I.
Data publikacji:: 2014-04
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 78.70.En
87.64.Bx
32.30.Rj
87.64.kv; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Microstructure Analysis of Nanocrystalline Powders by X-ray Diffraction
Autorzy:: Louër, D.
Audebrand, N.
Data publikacji:: 2002-07
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 61.10.Dp
61.10.Nz
61.46.+w
61.72.Dd
61.72.Lk
61.72.Mm; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Analysis of CMSX-4 single-crystalline turbine blades root by electron and X-ray diffraction methods
Autorzy:: Krawczyk, J.
Zubko, M.
Bogdanowicz, W.
Tondos, A.
Sieniawski, J.
Data publikacji:: 2016-10
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 81.10.Aj
61.72.Ff
61.05.J-; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Evolution of Disordering in SiC upon Sintering; Phase Analysis of SiC by Rietveld Method with Application of Neutron and X-Ray Diffraction
Autorzy:: Pałosz, B.
Boysen, H.
Schneider, J.
Schulz, H.
Data publikacji:: 1993-01
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 61.10.My
61.12.-q
61.50.Ks
81.20.Lb; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-6 z 6

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "x-ray diffraction analysis" wg kryterium: Wszystkie pola