- Tytuł:
- Non-Destructive Characterization, Inspection, Failure Analysis of Advanced Components and Sensors with a High Resolution and High Contrast Micro XCT System
- Autorzy:
-
Lau, S.
Kowalczyk, A. - Data publikacji:
- 2009-12
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki