Temat: mikroskopia rentgenowska

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Effect of minor Cu addition on the precipitation sequence of an as-cast Al-Mg-Si 6005 alloy
Wpływ niewielkiej zawartości miedzi na sekwencje wydzieleń w odlewanych stopach Al-Mg-Si 6005
Autorzy:: Li, K.
Song, M.
Du, Y.
Fang, X.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: stopy aluminium
dyfrakcja rentgenowska
transmisyjna mikroskopia elektronowa
badania twardości
aluminum alloys
precipitation
ageing
phase transformation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Evaluation of the Possibility of Applying Spatial 3D Imaging Using X-Ray Computed Tomography Reconstruction Methods for Quantitative Analysis of Multiphase Materials
Rentgenowska analiza ilościowa materiałów wielofazowych z wykorzystaniem przestrzennego obrazowania (3D) przy użyciu metod rekonstrukcji tomografii komputerowej
Autorzy:: Matysik, P.
Chojnacki, M.
Jóźwiak, S.
Czujko, T.
Lipiński, S.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: computed tomography
electron microscopy
X-ray diffraction
stereology
phase analysis
quantitative research
tomografia komputerowa
mikroskopia elektronowa
dyfrakcja rentgenowska
stereologia
analiza fazy
badania ilościowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Physicochemical and electrochemical properties of AISI 316L stainless steel used for implants in human urinary system
Ocena własności fizykochemicznych i elektrochemicznych stali AISI 316L stosowanej na implanty w urologii
Autorzy:: Walke, W.
Przondziono, J.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: AISI 316L stainless steel
electrochemical impedance spectroscopy (EIS)
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
scanning electron microscopy (SEM)
austenityczna stal nierdzewna AISI 316L
elektrochemiczna spektroskopia impedancyjna EIS
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów XPS
skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Informacja