- Tytuł:
-
Projektowanie testu aplikacyjnego układów pamięci NAND FLASH
Designing application test of NAND FLASH memory - Autorzy:
- Bąk, K.
- Data publikacji:
- 2013
- Wydawca:
- Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
- Tematy:
-
diagnostyka
NAND FLASH
wiarygodność
test aplikacyjny
diagnostic
reliability
application test - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł