- Tytuł:
- Advanced microstructure diagnostics and interface analysis of modern materials by high-resolution analytical transmission electron microscopy
- Autorzy:
-
Neumann, W.
Kirmse, H.
Hausler, I.
Mogilatenko, A.
Zheng, C.
Hetaba, W. - Data publikacji:
- 2010
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
- Tematy:
-
electron microscopy
energy dispersive X-ray spectroscopy
electron energy loss spectroscopy
electron holography - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł