- Tytuł:
-
Model badania potwierdzającego niezawodność dla dwumianowych systemów o rosnącej niezawodności
Reliability demonstration test model for binomial systems with reliability growth - Autorzy:
-
Wu, X.
Liu, Q. - Data publikacji:
- 2010
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
- Tematy:
-
system dwumianowy
badanie potwierdzające
dyskretny model wzrostu niezawodności
binomial system
demonstration test
discrete reliability growth model - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł