- Tytuł:
-
Ekonomiczny model badań niezawodnościowych goi
Economic design for goi reliability tests - Autorzy:
-
Yang, S. F.
Chien, K. W-T - Data publikacji:
- 2010
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
- Tematy:
-
minimalny rozmiar próbki
badanie V-Ramp
GOI (Nienaruszony Stan Tlenku Bramkowego)
gęstość defektów
próbkowanie losowe
rozkład dwumianowy
granice przedziału ufności
minimum sample size
V-Ramp test
GOI (Gate Oxide Integrity)
defect density
random sampling
binomial distribution
confidence bounds - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł