Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "technology simulation" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Piezoresistive sensors for atomic force microscopy - numerical simulations by means of virtual wafer fab
Autorzy:
Dębski, T.
Barth, W.
Rangelow, I.W.
Domański, K.
Tomaszewski, D.
Grabiec, P.
Jakubowski, A.
Data publikacji:
2001
Wydawca:
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
atomic force microscopy (AFM)
piezoresistive sensors
technology simulation
technology characterization
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies