- Tytuł:
- The Analysis Of Accuracy Of Selected Methods Of Measuring The Thermal Resistance Of IGBTs
- Autorzy:
-
Górecki, K.
Górecki, P. - Data publikacji:
- 2015
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
- Tematy:
-
IGBT
thermal resistance
measurements
transistor
semiconductor devices - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł