- Tytuł:
- Quantification of microstructural homogeneity in indium arsenide epilayers by X-ray diffraction
- Autorzy:
-
Odrzywolski, Sebastian
Kojdecki, Marek Andrzej
Złotnik, Sebastian
Kubiszyn, Łukasz
Wróbel, Jarosław - Data publikacji:
- 2024
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Czasopisma i Monografie PAN
- Tematy:
-
X-ray diffraction
crystalline structure
crystalline microstructure
epitaxy
indium arsenide
crystallite size
first-order strain
second-order strain - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł