Temat: faults - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "faults" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-6 z 6

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Diagnosis of multiple faults of an induction motor based on Hilbert envelope analysis
Autorzy:: Kabul, Ahmet
Ünsal, Abdurrahman
Data publikacji:: 2022
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: Hilbert envelope analysis
induction motor
multiple faults; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Multiple soft fault diagnosis of BJT circuits
Autorzy:: Tadeusiewicz, M.
Hałgas, S.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog circuits
BJT circuits
fault diagnosis
multiple faults; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Multiple soft fault diagnosis of nonlinear dc circuits considering component tolerances
Autorzy:: Tadeusiewicz, M.
Hałgas, S.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog circuits
fault diagnosis
multiple faults
nonlinear circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Stimulus with limited band optimization for analogue circuit testing
Autorzy:: Golonek, T.
Jantos, P.
Rutkowski, J.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analogue circuit testing
faults isolation
evolutionary computations
amplitude spectrum; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Soft Fault Clustering in Analog Electronic Circuits with the Use of Self Organizing Neural Network
Autorzy:: Grzechca, D.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: fault detection
parametric faults
analogue electronic circuits
self-organizing neural network; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: An intelligent compound gear-bearing fault identification approach using Bessel kernel-based time-frequency distribution
Autorzy:: Andrews, Athisayam
Manisekar, Kondal
Data publikacji:: 2023
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: compound gear-bearing faults
Bessel transform
time-frequency distribution
convolutional neural network; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-6 z 6

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "faults" wg kryterium: Temat