- Tytuł:
-
Modelowanie profilowania głębokościowego kryształów wiązką pocisków $C_{60}$ i $Au_{3}$
Computer modelling of crystal sample depth profiling with $C_{60}$ and $Au_{3}$ projectile beams - Autorzy:
- Paruch, Robert
- Współwytwórcy:
- Postawa, Zbigniew
- Data publikacji:
- 2012-09-25
- Słowa kluczowe:
-
dynamika molekularna
SIMS
profilowanie głębokościowe
molecular dynamics
pociski klastrowe
cluster projectiles
depth profiling - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego