- Tytuł:
-
Zastosowanie termowizji w badaniach nieniszczących i w mikroelektronice
Application of Thermography in Non Destructive Testing and microelectronics - Autorzy:
- Więcek, B. [et al.]
- Data publikacji:
- 2002
- Wydawca:
- Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
- Tematy:
-
termowizja
badania nieniszczące
mikroelektronika
nondestructive testing
thermography
microelectronics - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki