Temat: Atomic force microscopy, pH-sensitive polymer brushes, PDMAEMA, P3MP

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Atomic force microscopy, pH-sensitive polymer brushes, PDMAEMA, P3MP" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-1 z 1

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Charakterystyka cienkich filmów polimerowych metodą mikroskopii sił atomowych
Characterization of thin polymer films by atomic force microscopy.
Autorzy:: Świerz, Wojciech
Słowa kluczowe:: Mikroskopia sił atomowych AFM, szczotki polimerowe czułe na pH, PDMAEMA, P3MP
Atomic force microscopy, pH-sensitive polymer brushes, PDMAEMA, P3MP; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-1 z 1

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "Atomic force microscopy, pH-sensitive polymer brushes, PDMAEMA, P3MP" wg kryterium: Temat