Temat: diffraction grating

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Determination of stress in thin bismuth layers on flexible polymer substrate with use of optical interferometry
Wyznaczanie naprężeń w cienkich warstwach bizmutu na giętkim podłożu polimerowym z użyciem interferometrii optycznej
Autorzy:: Horeglad, Piotr
Słowa kluczowe:: odkształcenie, deformacja, naprężenie, czujnik optyczny, siatka dyfrakcyjna, litografia, DLIP, litografia interferencyjna, LabVIEW
strain, stress, optical strain sensor, optical strain gauge, diffraction grating, lithography, DLIP, interference lithography, LabVIEW; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

Szczegóły

Informacja