- Tytuł:
-
Wyznaczanie grubości warstw BN na podłożu Al2O3 za pomocąspektroskopii FT-IR
Materiały Elektroniczne
Determination of the thickness of BN layers on the Al2O3substrate by FT-IR spectroscopy - Autorzy:
-
Piątkowska Anna
Możdżonek Małgorzata
Wójcik Marek
Gaca Jarosław
Caban Piotr - Data publikacji:
- 2020
- Wydawca:
- Łukasiewicz – ITME
- Słowa kluczowe:
-
h-BN layers
IRR
ATR
thickness measurement
Al2O3
XRR
Materiały elektroniczne
pomiar grubości
ITR
Elektronika - czasopismo - materiały
warstwy h-BN - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka