- Tytuł:
-
Nowe stanowisko pomiarowe do charakteryzacji centrów defektowych metodą niestacjonarnej spektroskopii pojemnościowej = New measurement system for characterization of defect centers by capacitance transient spectroscopy method
Materiały Elektroniczne 2013 T.41 nr 3
Nowe stanowisko pomiarowe do charakteryzacji centrów defektowych metodą niestacjonarnej spektroskopii pojemnościowej - Autorzy:
- Kozubal Michał
- Współwytwórcy:
-
Mawłowski Marek
Brzozowski Michał
Pawłowski Michał - Data publikacji:
- 2013
- Wydawca:
- ITME
- Słowa kluczowe:
-
SiC
defect centers
centra defektowe
DLTS - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka