- Tytuł:
-
Materiały Elektroniczne 1992 T.20 nr 3
Numeryczne metody rozpłatania rentgenowskiego widma dyfrakcyjnego. Zastosowanie do badania supersieci półprzewodnikowych = The numerical x-ray peaks refinements applied to the semiconductor superlattice spectra
Numeryczne metody rozpłatania rentgenowskiego widma dyfrakcyjnego. Zastosowanie do badania supersieci półprzewodnikowych - Autorzy:
- Gaca Jarosław
- Współwytwórcy:
-
Sass Jerzy
Wójcik Marek - Data publikacji:
- 1992
- Wydawca:
- ITME
- Słowa kluczowe:
-
supersieć półprzewodnikowa
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
rentgenowskie widmo dyfrakcyjne
semiconductor spectra
Electronic - journal - materials
x-ray diffraction spectra
Elektronika - czasopismo - materiały - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka