Wszystkie pola: defect structure

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1986 nr 4(56)
Wpływ defektów strukturalnych podłoża na doskonałość strukturalną heteroepitaksjalnych warstw GaAs1-xPx/GaAs (x=0,4) = Influence of substrates defect structure on the structure perfection of heteroepitaxial layers GaAs1-xPx/GaAs(x=0.4)
Wpływ defektów strukturalnych podłoża na doskonałość strukturalną heteroepitaksjalnych warstw GaAs1-xPx/GaAs (x=0,4)
Autorzy:: Pawłowska Marta
Współwytwórcy:: Hruban Andrzej
Data publikacji:: 1987
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: GaAsP
heteroepitaxial layer
Elektronika - czasopismo - materiały
defekt strukturalny
Materiały elektroniczne
heteroepitaksjalna warstwa
Electronic materials
Electronic - journal - material
structure perfection; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Defekty struktury w kryształach ADP (NH4H2PO4)
Defekty struktury w kryształach ADP (NH4H2PO4) = Structure defects in ADP (NH4H2PO4) single crystals
Materiały Elektroniczne 1978 nr 3(23)
Autorzy:: Wieteska Krzysztof
Współwytwórcy:: Szmid Zofia
Czeszko Jerzy
Szarras Stanisław
Data publikacji:: 1978
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: Electronic - materials
dtructure defect
Materiały elektroniczne
ADP
Electronic - journal - materials
defekt struktury
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1979 nr 1(25)
Analiza defektów występujących w strukturze krzemu na podstawie obserwacji taśm krzemowych otrzymywanych metodą EFG. Part 1. = Analysis of the defects occuring in the silicon structure on the base of EPG silicon ribbon observation. Part 1
Analiza defektów występujących w strukturze krzemu na podstawie obserwacji taśm krzemowych otrzymywanych metodą EFG
Autorzy:: Ciszewski Bohdan
Współwytwórcy:: Kącki Jerzy
Data publikacji:: 1980
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: Elektronka - czasopsimo - materiały
defekt
metoda EFG
defect
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
silicon ribbon
EFG method
taśma krzemowa
Electronic - journal - materials; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Analiza defektów występujących w strukturze krzemu na podstawie obserwacji taśm krzemowych otrzymanych metodą EPG, Cz. II
Analiza defektów występujących w strukturze krzemu na podstawie obserwacji taśm krzemowych otrzymanych metodą EPG. Cz. II = An analysis of the defects occuring in silicon structure on the base of EPG silicon ribbon observation. Part II
Materiały Elektroniczne 1979 nr 2(26)
Autorzy:: Ciszewski Bohdan
Współwytwórcy:: Kącki Jerzy
Data publikacji:: 1980
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: defekt
metoda EFG
defect
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
silicon ribbon
EFG method
taśma krzemowa
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Informacja