Temat: mikroskopia sił atomowych (AFM)

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Mikroskopia Sił Atomowych (AFM)
Autorzy:: Kruk, T.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Roble
Tematy:: mikroskopia sił atomowych
AFM
mikroskop AFM
atomic force microscopy (AFM)
AFM microscope; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: A Comparison between Contact and Tapping AFM Mode in Surface Morphology Studies
Autorzy:: Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Rychlik, K.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Uniwersytet Warmińsko-Mazurski w Olsztynie
Tematy:: mikroskopia sił atomowych
AFM
topografia powierzchni
atomic force microscopy (AFM)
surface topography; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Selected imaging techniques applied in forensic science
Wybrane techniki obrazowania stosowane w kryminalistyce
Autorzy:: Łasińska, Anna
Data publikacji:: 2018-03-15
Wydawca:: Agencja Bezpieczeństwa Wewnętrznego
Tematy:: imaging techniques
microscopy
SEM
X-ray microanalysis
EDS
Raman spectroscopy
atomic force microscopy
AFM
techniki obrazowania
mikroskopia
mikroanaliza rentgenowska
spektroskopia Ramana
mikroskopia sił atomowych; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Wybrane techniki obrazowania stosowane w kryminalistyce.
Selected imaging techniques applied in forensic science
Autorzy:: Łasińska Anna
Data publikacji:: 2018-03-15
Tematy:: techniki obrazowania
mikroskopia
SEM
mikroanaliza rentgenowska
EDS
spektroskopia Ramana
mikroskopia sił atomowych
AFM
imaging techniques
microscopy
X-ray microanalysis
Raman spectroscopy
atomic force microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: CEJSH

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Selected imaging techniques applied in forensic science
Wybrane techniki obrazowania stosowane w kryminalistyce
Autorzy:: Łasińska Anna
Data publikacji:: 2018-03-15
Tematy:: imaging techniques
microscopy
SEM
X-ray microanalysis
EDS
Raman spectroscopy
atomic force microscopy
AFM
techniki obrazowania
mikroskopia
mikroanaliza rentgenowska
spektroskopia Ramana
mikroskopia sił atomowych; Pokaż więcej
Dostawca treści:: CEJSH

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Wybrane techniki obrazowania stosowane w kryminalistyce.
Selected imaging techniques applied in forensic science
Autorzy:: Łasińska, Anna
Data publikacji:: 2018-03-15
Wydawca:: Agencja Bezpieczeństwa Wewnętrznego
Tematy:: techniki obrazowania
mikroskopia
SEM
mikroanaliza rentgenowska
EDS
spektroskopia Ramana
mikroskopia sił atomowych
AFM
imaging techniques
microscopy
X-ray microanalysis
Raman spectroscopy
atomic force microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Analysis of the surface geometry of the orthodontic archwire and their influence on the bacterial adhesion
Autorzy:: Ziębowicz, B.
Woźniak, A.
Ziębowicz, A.
Ziembińska-Buczyńska, A.
Data publikacji:: 2019
Wydawca:: Stowarzyszenie Komputerowej Nauki o Materiałach i Inżynierii Powierzchni w Gliwicach
Tematy:: archwires
b-Ti
AFM
atomic force microscope
SEM/EDS
confocal microscopy
pitting corrosion
łuk ortodontyczny
mikroskop sił atomowych
mikroskopia konfokalna
korozja wżerowa; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Analysis of cells elasticity based on force-distance curves obtained from atomic force microscopy
Autorzy:: Płaczek, B.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Uniwersytet Śląski. Wydział Informatyki i Nauki o Materiałach. Instytut Informatyki. Zakład Systemów Komputerowych
Tematy:: atomic force microscopy
AFM
Young's modulus
force curve
indentation model
curve fitting
mikroskopia sił atomowych
moduł Younga
krzywa siły
model wcięcia
dopasowywanie krzywej; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Informacja