Temat: mikroskopia sił atomowych

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Ion beam induced surface modification of ta-C thin films
Współwytwórcy:: Böttger, Roman (1987- ). Autor
Sandulov, Maksim. Autor
Cvetkova, Tanâ. Autor
Bischoff, Lothar. Autor
Berova, Mariâ. Autor
Kitova Snežana Milanova. Autor
Data publikacji:: 2017
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Węgiel (pierwiastek)
Cienkie warstwy (technika)
Implantacja jonów; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Microstructure and thermally stimulated luminescence of β-Ga₂O₃ thin films
Współwytwórcy:: Kuhars'kij, Ì. J. Autor
Bordun, O. M. Autor
Bordun, B. O. Autor
Medvid, I. I. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Luminescencja
Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Tlenek gadolinu (III)
Mikrostruktura
Cienkie warstwy (technika); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Residual stress in Cr₉₉Al₁ polycrystalline thin films
Współwytwórcy:: Ntsoane, Tshepo P. Autor
Fullerton, Eric E. Autor
Mudau, Z. P. Autor
Prinsloo, Aletta R. E. Autor
Venter, Andrew M. Autor
Sheppard, Charles J. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Naprężenia i odkształcenia
Krystalografia rentgenowska
Polikryształy
Cienkie warstwy (technika); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Structural, optical and photocatalytic properties of Ba-doped TiO₂ thin films
Współwytwórcy:: Bensaha, Rabah Autor
Doula, Aicha Autor
Beldjebli, Ouidad Autor
Data publikacji:: 2021
Tematy:: Krystalografia rentgenowska
Cienkie warstwy (technika)
Właściwości optyczne
Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Bar (pierwiastek)
Tlenek tytanu (IV); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Structure and cathodoluminescence of Y₂O₃:Eu thin films obtained at different conditions
Współwytwórcy:: Bordun, I. O. Autor
Capovs'ka, Ž. Â. Autor
Kuhars'kij, Ì. J. Autor
Bordun, O. M. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Spektrofotometria
Krystalografia rentgenowska
Europ
Tlenek itru
Mikrostruktura
Elektronoluminescencja
Cienkie warstwy (technika); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Effect of nitridation and pre-growth annealing of the sapphire substrate on the quality of zinc oxide thin films grown by RF-magnetron sputtering
Autorzy:: Baseer Haider, Muhammad. Autor
Data publikacji:: 2017
Tematy:: Tlenek cynku
Wyżarzanie
Cienkie warstwy (technika)
Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Krystalografia rentgenowska
Szafir (minerał)
Budowa wewnętrzna substancji
Napylanie; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Exchange coupling effects in naturally oxidised ultrathin iron film
Współwytwórcy:: Dawczak-Dębicki, H. Autor
Smardz, Lesław. Autor
Nowicki, Marek (fizyka techniczna). Autor
Marczyńska, Agnieszka (fizyk). Autor
Wachowiak, Mateusz. Autor
Jabłoński, B. (fizyk). Autor
Rogowska, A. Autor
Pacanowski, Sebastian. Autor
Czajka, Ryszard (1953- ). Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Oddziaływanie wymiany
Żelazo
Spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania X
Napylanie w polu magnetycznym
Cienkie warstwy (technika); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Effect of solution concentration on optical and morphological properties of gallium nitride thin films
Współwytwórcy:: Al-Haddithi, Asmit R. Autor
Aziz, Wisam J. Autor
Ali, E.S. Autor
Data publikacji:: 2021
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Azotek galu
Spektroskopia Ramana
Fotoluminescencja
Właściwości optyczne
Krystalografia rentgenowska
Spektroskopia UV/VIS
Piroliza
Cienkie warstwy (technika); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Fractal features and structural, morphological, optical characteristics of sol-gel derived silica nanoparticled thin films
Autorzy:: Uysal, Bengü Özuğur. Autor
Współwytwórcy:: Pekcan, Önder M. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Krzemionka
Nanomateriały
Spektroskopia UV/VIS
Budowa wewnętrzna substancji
Właściwości optyczne
Cienkie warstwy (technika)
Metoda zol-żel; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: XPS and UPS valence band studies of nanocrystalline Ni-Ti alloy thin films
Współwytwórcy:: Dawczak-Dębicki, H. Autor
Werwiński, Mirosław. Autor
Smardz, Lesław. Autor
Majchrzycki, Łukasz. Autor
Marczyńska, Agnieszka (fizyk). Autor
Szajek, Andrzej. Autor
Skoryna, Juliusz. Autor
Pacanowski, Sebastian. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Nanokryształy
Struktura elektronowa
Spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania X
Stopy (materiałoznawstwo)
Cienkie warstwy (technika)
Spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania nadfioletowego; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sił atomowych" wg kryterium: Temat