- Tytuł:
- Extended Defects in SiC: Selective Etching and Raman Study
- Autorzy:
- Weyher, Jan
- Współwytwórcy:
- Weyher, Jan
- Wydawca:
- RepOD
- Tematy:
-
Chemistry
Engineering
Physics
Defect-selective etching
silicon carbide
Raman spectroscopy
micro-pipes
dislocations
biaxial stress
optical phonons - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Repozytorium Otwartych Danych