Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Kelvin Probe Force Microscopy" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
ARMScope – the versatile platform for scanning probe microscopy systems
Autorzy:
Świadkowski, Bartosz
Piasecki, Tomasz
Rudek, Maciej
Świątkowski, Michał
Gajewski, Krzysztof
Majstrzyk, Wojciech
Babij, Michał
Dzierka, Andrzej
Gotszalk, Teodor
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
Scanning probe microscopy
AFM
Kelvin Probe force microscopy
scanning tunnelling microscopy
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies