Temat: mikroskopia sil atomowych

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Residual stress in Cr₉₉Al₁ polycrystalline thin films
Współwytwórcy:: Ntsoane, Tshepo P. Autor
Fullerton, Eric E. Autor
Mudau, Z. P. Autor
Prinsloo, Aletta R. E. Autor
Venter, Andrew M. Autor
Sheppard, Charles J. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Naprężenia i odkształcenia
Krystalografia rentgenowska
Polikryształy
Cienkie warstwy (technika); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Structural, optical and photocatalytic properties of Ba-doped TiO₂ thin films
Współwytwórcy:: Bensaha, Rabah Autor
Doula, Aicha Autor
Beldjebli, Ouidad Autor
Data publikacji:: 2021
Tematy:: Krystalografia rentgenowska
Cienkie warstwy (technika)
Właściwości optyczne
Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Bar (pierwiastek)
Tlenek tytanu (IV); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Structure and cathodoluminescence of Y₂O₃:Eu thin films obtained at different conditions
Współwytwórcy:: Bordun, I. O. Autor
Capovs'ka, Ž. Â. Autor
Kuhars'kij, Ì. J. Autor
Bordun, O. M. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Spektrofotometria
Krystalografia rentgenowska
Europ
Tlenek itru
Mikrostruktura
Elektronoluminescencja
Cienkie warstwy (technika); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Study of second harmonic generation in KDP/Al₂O₃ crystalline nanocomposite
Współwytwórcy:: Andruŝak, Anatolìj Stepanovič. Autor
Andruŝak, Nazarìj Anatolìjovič. Autor
Kulyk, Bohdan. Autor
Sahraoui, Bouchta. Autor
Göring, Petra. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Sieć krystaliczna
Nanokryształy
Generacja drugiej harmonicznej
Optyka nieliniowa
Nanokompozyty
Krystalografia rentgenowska; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Effect of nitridation and pre-growth annealing of the sapphire substrate on the quality of zinc oxide thin films grown by RF-magnetron sputtering
Autorzy:: Baseer Haider, Muhammad. Autor
Data publikacji:: 2017
Tematy:: Tlenek cynku
Wyżarzanie
Cienkie warstwy (technika)
Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Krystalografia rentgenowska
Szafir (minerał)
Budowa wewnętrzna substancji
Napylanie; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Effect of solution concentration on optical and morphological properties of gallium nitride thin films
Współwytwórcy:: Al-Haddithi, Asmit R. Autor
Aziz, Wisam J. Autor
Ali, E.S. Autor
Data publikacji:: 2021
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Azotek galu
Spektroskopia Ramana
Fotoluminescencja
Właściwości optyczne
Krystalografia rentgenowska
Spektroskopia UV/VIS
Piroliza
Cienkie warstwy (technika); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Preparation of high-performance room temperature ZnO nanostructures gas sensor
Współwytwórcy:: Mikhlif, Haitham M. Autor
Dawood, Mohammed O. Autor
Mejbel, Mohanad K. Autor
Abdulmunem, Oday M. Autor
Data publikacji:: 2021
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Tlenek cynku
Mikrostruktura
Czujniki gazów
Krystalografia rentgenowska
Spektroskopia UV/VIS
Nanomateriały
Fizyczne osadzanie z fazy gazowej (PVD)
Skaningowa mikroskopia elektronowa; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Preparation and characterisation of Fe/Ce multilayer
Współwytwórcy:: Dawczak-Dębicki, H. Autor
Bilski, T. Autor
Grembowski, W. Autor
Smardz, Lesław. Autor
Majchrzycki, Łukasz. Autor
Kowalski, Wojciech (fizyk). Autor
Marczyńska, Agnieszka (fizyk). Autor
Szymański, Bogdan (fizyk). Autor
Pacanowski, Sebastian. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Żelazo
Materiały wielowarstwowe
Spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania X
Napylanie w polu magnetycznym
Budowa wewnętrzna substancji
Właściwości fizyczne
Cer
Krystalografia rentgenowska; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

Szczegóły

Informacja