Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Elipsometria" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Effect of N₂⁺ ion implantation and thermal annealing on near-surface layers of implanted GaAs
Współwytwórcy:
Droździel, Andrzej
Kulik, Mirosław
Surowiec, Zbigniew (fizyk)
Rzodkiewicz, Witold
Filiks, Janusz
Data publikacji:
2015
Tematy:
Tlenki - fizyka
Mikroskop sił atomowych - stosowanie
Spektroskopia rozpraszania wstecznego Rutherforda
Elipsometria
Implantacja jonów
Azot - fizyka
Arsenek galu - fizyka
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Academica
Artykuł
Tytuł:
Temperature dependent variations of properties of polymer-like carbon coatings treated with high energy electrons
Współwytwórcy:
Adlienė, Diana (1954- )
Plaipaitė-Nalivaiko, Rita
Vigricaitė, Lina (1984- )
Rutkūnienė, Živilė (1970- )
Data publikacji:
2015
Tematy:
Plazma (fiz.) - stosowanie - chemia
Chemiczne osadzanie z fazy gazowej (CVD)
Mikroskop sił atomowych - stosowanie
Węgiel (chem.) - chemia
Elektrony - stosowanie
Spektroskopia Ramana
Elipsometria
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Academica
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies